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生物通报道：大脑新皮层的功能完整性，依赖于正确数量的兴奋神经元和抑制性神经元。不过人们并不清楚，新皮层发育过程中的神经元生产异常会导致什么后果。

香港科技大学的研究团队发现，新皮层上层的神经元生产过剩会引发类似自闭症的行为，这项研究发表在十一月二十六日的Cell Reports杂志上。文章的通讯作者是中科院院士、香港科技大学叶玉如（Nancy Y Ip）教授。

自闭症是一种通常起病于3岁之前的发育障碍，以明显的社会交往障碍、言语沟通异常以及刻板的行为方式为特征，至今还没有可治愈的药物。此前人们发现，皮层神经元过多与自闭症有关。

研究人员将小分子XAV939注射到小鼠子宫内，提高了Axin蛋白的表达水平。高水平的Axin蛋白使中间前体细胞（intermediate progenitor）增多，促进了胚胎的神经生成。结果小鼠新皮层的上层长出了更多的锥体神经元。

研究人员发现，神经元生产过剩干扰了兴奋性神经元树突和脊的发育，改变了中间神经元的层间分布。此外，这种过度生产还破坏了兴奋性神经元和抑制性神经元的平衡，使兴奋性和抑制性突触连接失调。重要的是，这些小鼠表现出了类似人类自闭症的异常行为，比如社交障碍、强迫性和重复性行为。

这项研究展示了神经元生产过剩与自闭症相关行为的因果关系，为人们提供了重要的发育线索，有助于更好的理解自闭症的病因。

作者简介：

叶玉如教授是著名的神经生物学家早年毕业于美国Simmons学院，1983年获美国哈佛大学医学院博士学位。现任香港科技大学教授，生物技术研究所所长及分子神经科学中心主任等职务，兼任中国科学院上海脑研究所、生命科学研究中心及神经科学研究所客席研究员，南京大学、同济医科大学等大学的名誉教授。叶玉如教授2001年当选为中国科学院院士。2004荣获“联合国（教科文——欧莱雅）世界杰出女科学家成就奖”。