一条关于芯片质量问题的新闻，点燃了华东理工大学机械与动力工程学院孙思博、郑者等本科生的科研好奇心。面对芯片内部肉眼难察的失效难题，在闫亚宾、王晓媛两位老师指导下，他们组建“微纳智测——高通量微纳原位力学智能测试探索者”团队，开启微纳世界的科研探索，先后拿下第十七届过程装备实践与创新大赛全国一等奖、中国国际大学生创新大赛（2026）上海赛区高教主赛道本科生创意组金奖。

芯片内部薄膜与界面结构受力产生的变形、损伤，是影响芯片质量的重要因素，而开展相关研究亟需专用的微纳力学测试装备。最初，学生们对研究方向较为宽泛，在老师引导下，将研究目标聚焦到高通量微纳原位力学测试装备研发上。团队成员分头查阅专业文献，学习精密驱动、机构设计、数据处理等相关知识，还走进中国国际工业博览会与相关企业实地参观调研，对标行业装备找准设计思路。

团队成员合影

经过反复研讨打磨，团队形成“智寻、智动、智感”三大技术模块设计方案。“智寻”依靠机器视觉实现微小试样自动定位对中；“智动”兼顾运动行程与加载精度，适配多种力学测试任务；“智感”打通微观图像和力学曲线，实现材料变化智能识别。

研发过程并非一帆风顺，设备空间布局取舍、大行程运动与高精度加载相互矛盾等难题接连出现。成员各司其职，开展三维建模、结构调试、数据整理工作，历经多轮迭代完成整机设计，围绕关键技术申请多项发明专利与实用新型专利。

备赛参赛的经历，也让他们更加清醒地认识到现有设计的优势与不足。如今团队成员各自开启升学新阶段，有人保研本校继续深造，有人全力备考研究生。虽然个人发展路径各不相同，但项目科研协作并未止步。

下一步，团队将继续优化测试装置硬件结构，完善图像?力学曲线关联分析算法，持续打磨这套微纳测试工具。始于一则新闻的好奇心，已经转化为面向纳米世界持续求索的动力，这群青年学子将带着科研实践积累的经验与默契，继续向微纳领域深处探索。