作者:朱汉斌 来源:中国科学报 发布时间:2024/5/17 21:52:41
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学者综述二次离子质谱技术发展

 

近日,应《自然-综述-方法导论》(Nature Reviews Methods Primers)的邀请,香港科技大学(广州)教授翁禄涛与合作者共同撰写了题为《二次离子质谱》(Secondary ion mass spectrometry)的综述论文,同期还配发了导论总览(PrimeView)对该论文进行推介。

“二次离子质谱”是一种用于分析固体材料化学成分及其在二、三维分布的技术,因具有极高的成像空间分辨率和灵敏度,在材料科学,生命科学和地球科学有广泛应用。此次翁禄涛等学者撰写的综述系统地介绍该技术的基本原理、设备构造及数据解析,总结了该技术在先进材料与表面科学、半导体器件、生命科学和地球科学等领域的最新应用,并梳理了该技术现有的挑战和未来的发展方向。

记者获悉,论文共同第一单位为香港科技大学(广州)、材料表征与制备中央实验室(MCPF)、功能枢纽先进材料学域和广州市材料信息学重点实验室。

翁禄涛负责的MCPF拥有一台新型飞行时间二次离子质谱仪,同时具有极高成像空间分辨率和超高质量分辨率,是中国第一台同类型的先进科学仪器。此外,MCPF还拥有许多世界先进的仪器设备,可以从宏观到原子尺度深入探索材料的成分、形貌、结构以及功能性质,目前MCPF已对外实现仪器开放共享,正在为港科大两校园、校外高校和科研院所及大湾区工业界的基础研究提供高质量服务。

相关论文信息:https://doi.org/10.1038/s43586-024-00311-9

 
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