作者:陈桂萍 张行勇 来源:中国科学报 发布时间:2015/11/25 10:35:47
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半导体激光器寿命测试系统通过验收

 

本报讯 近日,中科院条件保障与财务局组织来自西安交大等单位的9名专家教授,验收并通过了西安光机所研制的国内第一台具备功率、波长、光谱、偏振监测的多功能高功率半导体激光器老化和寿命测试系统。

专家认为,与国际同类设备相比,该系统测试功能更加全面,部分指标更优,测试速度快,效率高,借助此设备,可实现大功率半导体激光器规模化老化及寿命测试。(陈桂萍 张行勇)

《中国科学报》 (2015-11-25 第4版 综合)
 
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