| 《纳米快报》2008年8卷8期 |
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| 用于高分辨率透射电子显微镜的超顺排列碳纳米管网格 |
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“纳米”是现在科技研究中最热门的主题之一,随着纳米科技的高速发展,纳米尺度的结构表征技术显得非常重要。高分辨率透射电子显微镜(TEM)技术在发现和表征纳米材料上扮演着重要的角色。除了良好的TEM系统,为了获得理想的TEM图像,样品的制备技术也十分重要。通常,TEM微网格用于制备纳米粉末的样品,粉末分散在网格表面,并覆盖上多孔的碳薄膜。但对于尺寸与支持膜厚度相当(尤其是直径小于5nm)的小颗粒,因为支持网格的无定形碳薄膜的散射影响,很难获得清晰的TEM图像。为了得到纳米材料,特别是纳米颗粒的清晰的TEM图像,需要一种导电的、超薄的、坚固的和纳米多孔的支持膜。
现在,北京清华大学清华—富士康纳米科技研究中心的科学家表示,他们发明的超顺排列碳纳米管薄膜可以满足TEM网格的上述需求。在2002年,他们首先开发了一种合成超顺排列碳纳米管阵列的方法,而后,由单向性的碳纳米管组成的连续薄膜可以从中纺出来。超顺排列碳纳米管网格通过超薄、超顺排列的碳纳米管薄膜交叉堆积起来,具有大量纳米尺度的孔洞和许多有效边缘。它比无定形碳支持膜的性能好,尤其在表征纳米颗粒方面。更重要的是,它的制作过程可以完全自动化,具有高产率,适合批量生产。
原文链接:http://pubs.acs.org/cgi-bin/abstract.cgi/nalefd/2008/8/i08/abs/nl8012727.html
(陈鲁倬/编译)
《科学新闻》 (2008年 10月 第2期 封面集锦)