纳米尺度上无损伤显示的需求正不断增长，并已推动分辨率远低于光学波长的远场光学显微镜的发展。在材料科学中，对于（亚）微米尺度的结构研究通常是通过基于集中散射的技术或者电子和扫描探针显微镜。然而远场光学方法有其独特的优点，它能同时提供局部的、动态的和无损伤的三维结构信息。

 

现在，德国马普生物物理化学研究所的科学家们使用受激发射损耗（STED）显微镜对200nm密集的胶体纳米结构进行直接三维成像，得到43nm的横向分辨率和125nm的轴向分辨率，有效焦域是相应的共焦显微镜的1/126。如图所示，放大镜的内部显示了高分辨率纳米显微镜在分析晶体结构方面的优越性，而放大镜以外的部分表明了传统显微镜的显示极限。在不远的将来，他们将把研究扩展到包括晶体实时演化信息和具有更复杂形状和相互作用力的结构单元的组装等方面。

 

原文链接：http://pubs.acs.org/cgi-bin/abstract.cgi/nalefd/2008/8/i05/abs/nl073164n.html　　（陈鲁倬/编译）