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作者:陈鲁倬 来源:科学新闻杂志(http://www.sciencenet.cn/) 发布时间:2008-1-7 12:44:0
《纳米快报》2007年7卷11期
新型纳米电子学—石墨片集成电路的测试

 

单层石墨片具有良好的电学性质,例如,石墨片集成电路的主要组块是5~10nm宽的石墨纳米条,调整宽度和边缘形态可分别获得金属和半导体的性质。世界各国的科学家正致力于研究纳米条的构型,尝试创造不同的全石墨电子纳米器件和电路元件。
 
最近实验上发现了单层石墨片的新现象,为发展以碳为基础的纳米电子学提供了可能性。来自华盛顿大学的研究者测试了多个裁剪自石墨片纳米条的集成电路基本元件:无反射电流分流器,120°旋转无反射电流转接器,不同宽度纳米条间的无反射电流连接器和高阻元件。研究发现,120°无反射电流转接器的电导与直线纳米条类似,并大大高于60°无反射电流转接器。不同的锯齿-锯齿、扶手椅形—扶手椅形、锯齿—扶手椅形石墨纳米条交叉链接也经过测试。这些构型和交叉链接都可作为发展基于单层石墨片的纳米电子学实验的出发点。
 
原文链接:http://pubs.acs.org/cgi-bin/abstract.cgi/nalefd/2007/7/i11/abs/nl070708c.html
 
(陈鲁倬/编译)
 
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